更新時間：2024-02-23
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
| 品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合 |
泰勒霍普森粗糙度儀SURTONIC DUO
SURTRONIC DUO 粗糙度儀儀器特點：
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO快速測量在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO攜帶方便DUO可應用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。
經(jīng)外接口操作者可在距離被測工件1m處操作測量。
校準方便DUO具有自身校準標準，可預設標準值，通過LCD顯示出來。
測針保護不用時，設“park"位置可全面保護測針。
人體工程學設計
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO技術指標：
Ra(算術平均偏差，以前稱為CLA或AA)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(采樣長度內(nèi)輪廓線以下的大高度)
Rp(采樣長度內(nèi)輪廓線以上的大高度)
Rt(剖面大峰谷高度)
Rz1max(任何采樣長度內(nèi)的大峰到谷)
偏度-關于平均線的輪廓對稱度的測量
Rq(輪廓線與平均線的偏差值的均方根均方根(rms))
Rku(峰度-表面輪廓銳度的測量)
蘇公網(wǎng)安備32021402002648
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