MINITEST730測(cè)厚儀

MINITEST730系列：統(tǒng)計(jì)型，外置一體式探頭,不可更換探頭

MiniTest 730 F 1.5鐵基涂層，0...1500 µm

MiniTest 730 N 07非鐵基涂層，0...700 µm

MiniTest 730 FN 1.5兩用型，0...1500 µm (F)，0...700 µm (N)

MiniTest 730 F2鐵基涂層，0...2000 µm

MiniTest 730 F5鐵基涂層，0...5000 µm

MiniTest 730 N 2.5非鐵基涂層，0...2500 µm

MiniTest 730 FN 5兩用型，0...5000 µm (F)，0...2500 µm (N)

MiniTest 730 F15鐵基涂層，0...15 mm

EPK涂層測(cè)厚儀高度的SIDSP探頭特征曲線
EPK MINITEST730在消費(fèi)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)厲的校準(zhǔn)。普通的模仿探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來校準(zhǔn)，但SIDSP探頭不同：由于是全自動(dòng)化過程，探頭在50個(gè)點(diǎn)上停止校準(zhǔn)，大大降低了特征曲線的偏離。因而特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都非常精準(zhǔn)，將丈量錯(cuò)誤降至zui低
EPK涂層測(cè)厚儀SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感
在消費(fèi)過程中，對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都停止了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a，這關(guān)于模仿探頭是基本不可能完成的。這樣溫度改動(dòng)就不會(huì)影響丈量，與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)作！