更新時(shí)間:2024-07-04
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廠商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
生產(chǎn)地址:
品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合 |
菲希爾鍍層測(cè)厚儀
菲希爾X射線測(cè)厚儀特點(diǎn):
1、測(cè)量極微小部件結(jié)構(gòu),如印制線路板、接插件或引線框架等;
2、分析超薄鍍層,如小于 0.1 μm的Au和Pd鍍層;
3、測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層;
4、分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng);
5、全自動(dòng)測(cè)量,如在質(zhì)量控制領(lǐng)域。
適用于無(wú)損分析和測(cè)量極微小部件機(jī)構(gòu)上鍍層的厚度,即使是復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu),也同樣應(yīng)付自如。
項(xiàng)目 | XDV-u/XDV-u-PCB |
品牌 | 菲希爾 |
可分析鍍層數(shù) | 可同時(shí)測(cè)量23層鍍層,同時(shí)分析24種元素,進(jìn)行厚度測(cè)量和材料分析,從Al到U |
計(jì)算方法 | 采用基本參數(shù)法(內(nèi)置純?cè)仡l譜庫(kù)),沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片也可以測(cè)量 |
底材影響 | 無(wú)損測(cè)量鍍層時(shí)不受底材影響 |
特點(diǎn) | 能夠顯示mq值(測(cè)量品質(zhì)顯示) |
放大倍數(shù) | 最高達(dá)到1080X (光學(xué)變焦: 30X,90X,270X;數(shù)字變焦: 1X,2X,3X,4X) |
可用樣品平臺(tái)面積 | 寬x深:370mm x 320mm,開(kāi)槽式設(shè)計(jì),可測(cè)量大面積線路板 |